Preview

Заводская лаборатория. Диагностика материалов

Расширенный поиск
Доступ открыт Открытый доступ  Доступ закрыт Только для подписчиков

Определение ориентации внутренних линейных дефектов в изотропных оптических кристаллах

https://doi.org/10.26896/1028-6861-2019-85-2-29-32

Полный текст:

Аннотация

Исследование структуры оптических кристаллов и дефектов в них — одна из важнейших задач кристаллофизики, кристаллографии и материаловедения. В последние годы, как известно, возрос интерес к линейным дефектам в кристаллах, которые (прежде всего линейные несовершенства кристаллической структуры) существенно снижают эксплуатационные физические свойства оптических кристаллов. Представлен способ экспрессного определения кристаллографической ориентации линейных дефектов (дислокаций, их скоплений, линейно вытянутых объемных включений и др.) в оптических кристаллах. Ориентацию линейно вытянутой микропоры в изотропном оптическом прозрачном кристалле флюорита определяли с использованием оптического микроскопа. Вращая кристалл, закрепленный в кристаплодержателе микроскопа, фиксировали показания шкапы барабана окуляра. Поправки на преломление света в объеме кристалла учитывали аналитически. Кристаллографические индексы ориентации микропоры соответствовали [100]. Приведены зависящие от значения показателя преломления ограничения на углы поворота кристалла, используемые при данном способе определения ориентации линейного дефекта.

Об авторах

В. Н. Чередов
Сыктывкарский государственный университет
Россия

Валерий Николаевич Чередов



А. П. Петраков
Сыктывкарский государственный университет
Россия
Анатолий Павлович Петраков 


Список литературы

1. Doherty М., Miehl J., Dolde F., et al. Measuring the defect structure orientation of a single NV-centre in diamond / New J. Phys. 2014. Vol. 16. P 1 - 20.

2. A. c. 949434 СССР. Способ определения кристаллографической ориентации внутренних несовершенств прозрачных кристаллов / Белянин А. Ф., Бульенков Н. А. — № 2951031; заявл. 30.06.1980; опубл. 07.08.1982. Бюл. № 29.

3. А. с. 1000477 СССР. Способ определения кристаллографической ориентации монокристаллов с ОЦК-решеткой / Измаилов Ф. И. — № 3271374; заявл. 01.04.1981; опубл. 28.02.1983. Бюл. № 8.

4. А. с. 1522027 СССР. Способ определения ориентации монокристаллов / Чередов В. Н. — № 4258229; заявл. 08.06.1987; опубл. 15.11.1989. Бюл. № 42.

5. А. с. 890179 СССР. Дифрактометрический способ определения ориентировки монокристаллов / Фомин В. Г., Новиков А. Г., Освенский В. Б., Утенкова О. В. — № 2916621; заявл. 25.04.1980; опубл. 15.12.1981. Бюл. № 46.

6. Борн М., Вольф Э. Основы оптики. — М.: Наука, 1973. — 720 с.

7. Корн Г., Корн Т. Справочник по математике. — М.: Наука, 1978.—832 с.

8. Бабичева И. Е., Болдовекая Т. Е. Справочник по математике (в формулах, таблицах, рисунках). — Омск: СибАДИ, 2010.— 148 с.

9. Dowty Е. Computing and drawing crystal shapes / The American Mineralogist. 1980. Vol. 65. N 5. P 465 - 471.


Для цитирования:


Чередов В.Н., Петраков А.П. Определение ориентации внутренних линейных дефектов в изотропных оптических кристаллах. Заводская лаборатория. Диагностика материалов. 2019;85(2):29-32. https://doi.org/10.26896/1028-6861-2019-85-2-29-32

For citation:


Cheredov V.N., Petrakov A.E. Determination of the orientation of internal linear defects in isotropic optical crystals. Industrial laboratory. Diagnostics of materials. 2019;85(2):29-32. (In Russ.) https://doi.org/10.26896/1028-6861-2019-85-2-29-32

Просмотров: 121


ISSN 1028-6861 (Print)
ISSN 2588-0187 (Online)